Портативный дефектоскоп, предназначенный для обнаружения дефектов, расслоений, непроклеев, нарушений целостности композитных материалов и сотовых структур.
Благодаря своим уникальным функциональным возможностям, прибор позволяет автоматизировать процесс обнаружения дефектов за счет автоматической настойки резонатора на объект контроля с учетом плотности и структуры материала.
Решена проблема визуализации дефекта относительно координат контролируемого объекта за счет применения акустического сканера местоположения.
ДАМИ-С предназначен для контроля:
- слоистых конструкций из неметаллических материалов (углепластиков, стеклопластиков, текстолитов) толщиной 1…50мм;
- сотовых конструкций: с неметаллическими обшивками толщиной 0.5…5 мм и сотами из полиамидной бумаги или других материалов высотой 5…120 мм; с металлическими обшивками (в том числе перфорированными) толщиной 0.5…5 мм и сотами высотой 10…120 мм;
- конструкций с различными заполнителями, в том числе типа ТЗП;
- слоистых клееных конструкций (2-х, 3-х, 4-х слойных) общей толщиной до 100мм;
- грубых сотовых и иных конструкций с регулярно меняющимся импедансом поверхности и (или) переменной толщиной.