Портативный рентгено-флуоресцентный анализатор S1 TURBO SD LE

Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор с технологией SDD детектора.

Анализ химических элементов от магния (12) до урана (92) без использования вакуумного насоса.

Анализатор металлов S1 TURBO^SD LE является удобным и простым в эксплуатации инструментом для неразрушающего химического анализа металлов и сплавов. Анализатор может быть использован для сортировки металлолома, входного контроля металлопроката и готовых изделий, контроля качества продукции, подтверждающего контроля марок сталей и сплавов, при ремонтно-технических работах и диагностике.

Анализатор S1 TURBO^SD LE разработан с применением уникальной технологии SDD кремниевого дрейфового детектора XFlash© с энергетическим разрешением 145 эВ (Mn K?) при 100 000 имп/с для обеспечения чрезвычайно высокой скорости и точности химического анализа. Высочайшая чувствительность кремниевого дрейфового детектора XFlash© позволяет пользователю определять концентрации элементов в составе образца в диапазоне от магния (12) до урана (92), в том числе, и легкие элементы, как Mg(12), Al(13), Si(14), P(15), S(16) без вакуумизации и гелиевой продувки в сплавах на основах железа, никеля, титана, меди, алюминия и т.д.

S1 TURBO^SD LE может для работать в тяжелых производственных условиях, при диапазоне рабочих температур –10...+50°С. Кроме этого, анализатор может быть использован для анализа горячих поверхностей до +500°С.

S1 TURBO^SD LE идеально подходит для

• Металлургии и машиностроения
• Газо- и нефтедобывающей промышленности
• Атомной промышленности
• Энергетической отрасли
• Авиационной промышленности
• Горной промышленности
• Перерабатывающей промышленности
• Строительства
• Экологического мониторинга
• Приборостроения
• Производства электронных компонентов

Особенности

• Анализ элементов от магния (12) до урана (92), в том числе легких элементов Mg(12), Al(13), Si(14), P(15), S(16), без использования вакуумного насоса и продувки гелием благодаря уникальным характеристикам кремниевого дрейфового детектора XFlash© с энергетическим разрешением 145 эВ при 100000 имп/с.
• Широкий пакет программного обеспечения включающий четыре программы: сортировка, эмпирические калибровки, метод фундаметральных параметров, универсальный метод.
• Сверхбыстрая (от 2 с) идентификация марки материала.
• Возможность выбора эмпирических калибровок и фундаментальных параметров для оптимизации точности и скорости анализа.
• Обширная библиотека марок.
• Возможность добавления специфических марок в библиотеку.
• Возможность анализа сварных швов и горячих поверхностей до +500°С.
• Лучшая на рынке система рентгеновской безопасности.

Технические характеристики